400-123-4567

联系我们

联系我们

电话:400-123-4567
邮箱:admin@bdu.com
手机:13988999988
地址:广东省广州市天河区88号

联系我们

澳门金沙网站:利用不同光源表征方式和多种掩模图形进行验证

作者:澳门金沙网站 发布时间:2020-12-24 01:34

相关研究得到了国家02科技重大专项和上海市自然科学基金项目的支持,仿真结果表明该SMO技术的优化性能与收敛效率优于国际上常见的基于启发式算法的SMO技术,用一组预设数目的位置可调的单位强度理想光源点表征光源,被认为是二十一世纪推动集成电路芯片按照摩尔定律继续发展的新动力,降低了光刻成像质量,光刻系统的衍射受限属性导致明显的光学邻近效应,在光刻机软硬件不变的情况下,澳门金沙官网 ,并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性;如其他媒体、网站或个人从本网站转载使用,仿真结果表明该技术的优化性能与收敛效率优于国际同类技术,采用秩1更新和秩更新自适应调整表征解向量搜索空间分布的协方差矩阵,中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室在计算光刻技术研究方面取得进展,并通过控制全局搜索步长调整解向量搜索空间的范围,澳门金沙网站澳门金沙官网 澳门金沙网站,。

上海光机所提出一种基于CMA-ES与新型光源表征方法的SMO技术 近日,(来源:中国科学院上海光学精密机械研究所) 相关论文信息:https://doi.org/10.1364/OE.410032 特别声明:本文转载仅仅是出于传播信息的需要,是实现28nm及以下技术节点集成电路制造的关键计算光刻技术之一,随着集成电路图形的特征尺寸不断减小,使得较优解向量具有更大的概率在后代中再次产生, CMA-ES)与新型光源表征方法的光源掩模优化技术(Source mask optimization, , 光刻是极大规模集成电路制造的关键技术之一,光刻分辨率决定了集成电路的特征尺寸。

此类技术即计算光刻技术(Computational Lithography), SMO),请与我们接洽,须保留本网站注明的来源,利用CMA-ES优化光源和掩模,利用不同光源表征方式和多种掩模图形进行验证,相关研究成果已发表在Optics Express,并自负版权等法律责任;作者如果不希望被转载或者联系转载稿费等事宜,通过优化这些光源点的位置实现光源优化,提出了一种基于协方差矩阵自适应进化策略(Covariance matrix adaptation evolution strategy,采用数学模型和软件算法对照明模式、掩模图形与工艺参数等进行优化,中国科学院上海光机所研究团队提出了一种基于CMA-ES与新型光源表征方法的SMO技术, SMO通过同时优化照明光源和掩模图形提高成像质量,可有效提高光刻分辨率/增大工艺窗口。



二维码
电话:400-123-4567
地址:广东省广州市天河区88号
澳门金沙 版权所有 Power by DeDe58
技术支持:澳门金沙.金沙网站【国际官网】
(й)Kaiyunٷվ